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氮化鎵技術(shù):材料與生長(zhǎng)工藝

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氮化鎵基本特性介紹
6 _6 o' q; g/ T0 E氮化鎵(GaN)技術(shù)在功率電子和微電子系統(tǒng)領(lǐng)域展現(xiàn)出優(yōu)異性能。隨著傳統(tǒng)硅基器件接近物理極限,GaN憑借適用于高功率和高頻應(yīng)用的卓越性能特征脫穎而出[1]。: ^, w: a- _, t: Y

7 o+ W/ g% D" s" oGaN屬于寬禁帶(WBG)半導(dǎo)體家族,具有獨(dú)特的性質(zhì)。材料的晶體結(jié)構(gòu)對(duì)電氣和物理特性起決定性作用。0 y% D5 j  f- B. O1 k+ l3 x
' V# [3 i5 J" {( Y
圖1展示了半導(dǎo)體材料的三種主要晶體結(jié)構(gòu):(a)金剛石晶格、(b)閃鋅礦晶格和(c)纖鋅礦晶格,GaN通常呈現(xiàn)纖鋅礦結(jié)構(gòu)。
6 y! O. o1 R  y8 z# Q& K( x- q: Q$ ^2 X- b
材料特性與性能- N, x9 U0 n4 c2 O& d
GaN的纖鋅礦晶體結(jié)構(gòu)產(chǎn)生獨(dú)特的極化效應(yīng),可用于器件設(shè)計(jì)。這種極化效應(yīng)與寬禁帶特性相結(jié)合,實(shí)現(xiàn)了高電子遷移率和優(yōu)異的功率處理能力。
, F6 K8 {) o( _3 f" G: f3 L
  u/ S8 I4 M: L5 ~5 g$ b圖2以雷達(dá)圖形式對(duì)比了不同半導(dǎo)體材料的標(biāo)準(zhǔn)化特性,突出顯示了GaN的優(yōu)異性能(綠色部分)。0 `) \6 M$ B" ^% c& U: {
1 u# F- S# v1 ~* b$ v7 g
與傳統(tǒng)的硅半導(dǎo)體相比,GaN具有以下優(yōu)勢(shì):9 q: |/ E) Z* E6 [* Q
  • 更高的擊穿場(chǎng)強(qiáng)(3.3 MV/cm,而硅為0.3 MV/cm)
  • 優(yōu)異的電子遷移率(2000 cm2/Vs)
  • 更快的電子速度(2.7 x 10? cm/s)
  • 更好的熱導(dǎo)率(>1.7 W/cm-K)
    3 L6 v$ h6 ^7 A/ l3 L2 B! l. m

    4 [- P+ ?9 c$ s- m4 h* b: Z  G4 a+ `+ ~

    - E" \# y& p3 X4 y+ ]圖3展示了III族氮化物材料系統(tǒng)的禁帶能量與晶格常數(shù)關(guān)系,說(shuō)明了能帶工程的靈活性。
    . O$ l) w6 I+ O$ T# m2 _4 s/ I$ H0 h1 t9 i
    生長(zhǎng)工藝與方法
    9 A3 G/ S+ |! u& g; e& WGaN生長(zhǎng)主要采用兩種方法:分子束外延(MBE)和金屬有機(jī)化學(xué)氣相沉積(MOCVD)。
    " D( W: m. o- _1 W  }5 ~) ]/ |1 Q: d4 f- w, z) N
    1. MBE生長(zhǎng):
    & j) U3 w3 E- Z5 l! s: G% ~ / O/ _) L. j+ r# V9 [' E
    圖4展示了MBE生長(zhǎng)系統(tǒng)的示意圖,包括主要部件和腔室布局。0 Q( W( O; _* g2 D9 C
    ( c$ s8 A1 w; ?+ h7 ~) B
    MBE工藝在超高真空環(huán)境下精確控制分子束。這種技術(shù)特別適合在較低沉積溫度下生長(zhǎng)InN或高銦含量的氮化物材料。& ~% g8 i( I% M7 v
    8 L0 l& U) r/ _; K( c) ]
    圖5展示了MBE生長(zhǎng)模型的示意圖,以GaAs為例說(shuō)明表面相互作用。8 w  e3 t, R' ~) \8 h
    9 s. y$ k% R0 i# A3 A
    2. MOCVD生長(zhǎng):
    / A8 l$ S/ X# ] 3 R4 \* ~/ V. X0 `
    圖6展示了不同的MOCVD生長(zhǎng)設(shè)計(jì):(a)傳統(tǒng)MOCVD氣流、(b)雙流系統(tǒng)(惰性氣體垂直于正常氣流)、(c)氣流垂直于襯底。/ {( e0 J$ v) u  P5 f5 H
    2 K+ v7 W1 t, D2 i' N% u6 ^' j5 u
    MOCVD因具有高產(chǎn)量和一致性,已成為商業(yè)生產(chǎn)的標(biāo)準(zhǔn)工藝。該工藝使用金屬有機(jī)化合物作為III族元素源,使用氫化物作為V族元素源。
    1 \: _4 ^9 l9 x3 _" W7 J! I2 t; f9 f; h  w" b$ @5 K
    工藝控制與發(fā)展方向- J- r% ^+ e* R% J( G6 z
    生長(zhǎng)工藝控制:
      I. f7 x6 S* m5 p5 R
    % d0 V5 P1 `, R; L6 f, p圖7展示了MOCVD系統(tǒng)的通用生長(zhǎng)工藝,顯示了不同生長(zhǎng)階段的溫度變化。
    7 ]; H9 Y7 {9 ?6 u6 ~+ |7 Z4 w& `2 b+ i
    GaN生長(zhǎng)的成功關(guān)鍵在于精確的溫度控制和適當(dāng)?shù)木彌_層實(shí)現(xiàn)。生長(zhǎng)工藝通常始于襯底氮化,隨后是緩沖層沉積,最后在高溫下生長(zhǎng)主GaN層。
    : Z& v  R; e1 c; a: z+ }4 B, O8 l2 \4 x* z- E- r7 z( F5 S; _
    盡管具有諸多優(yōu)勢(shì),GaN技術(shù)在襯底可用性和成本方面仍面臨挑戰(zhàn)。目前大多數(shù)商用GaN器件生長(zhǎng)在硅、碳化硅或藍(lán)寶石等異質(zhì)襯底上,每種襯底在晶格匹配、熱導(dǎo)率和成本方面都有各自的優(yōu)缺點(diǎn)。5 A1 [% Y! C- L6 A
    4 r6 ^* b- I( |: S5 V' b# _7 j
    展望未來(lái),GaN技術(shù)正在不斷進(jìn)步,生長(zhǎng)工藝和襯底技術(shù)的改進(jìn)將帶來(lái)更好的性能和成本效益。該技術(shù)已在功率電子、射頻器件和光電子領(lǐng)域得到應(yīng)用,隨著技術(shù)的成熟,新的應(yīng)用領(lǐng)域不斷涌現(xiàn)。; e- ~, D" `$ ]# X0 T( U& b
    ' z3 x7 H/ r. \. Y% \5 \2 r% G5 b9 B" H
    這些在GaN材料和工藝方面的技術(shù)進(jìn)步推動(dòng)了新一代電子器件的發(fā)展,使其能夠在比傳統(tǒng)硅基技術(shù)更高的頻率、溫度和功率水平下運(yùn)行。隨著電子系統(tǒng)不斷發(fā)展,GaN將在功率電子和高頻應(yīng)用的未來(lái)發(fā)展中發(fā)揮關(guān)鍵作用。% c, D, I5 `( L. S1 i' J
    ! f' @- a* Y, y9 b! q% |
    參考文獻(xiàn)
    5 Q6 D, a) f( {# B3 l[1] C.-C. Lin and S.-C. Shen, "GaN Material Properties," in GaN Technology Materials, Manufacturing, Devices and Design for Power Conversion, Springer Nature Switzerland AG, 2024, ch. 2, pp. 13-28.& W  C4 M5 i; F* K' h) f$ Y
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