||
測量石英晶振好壞的測試設(shè)備和流程是直接用萬用表測量晶振電阻和電壓,我們yxc揚興科技會根據(jù)測量數(shù)值能快速有效的判斷質(zhì)量情況。那么,想要全面分析測試石英晶振的設(shè)備和流程需要怎么做?
測試工具清單
石英晶振測試需準備的材料、零部件
1.細紗手套
2.待測石英晶體元件
設(shè)備及工裝
1.頻率計(1×10-7)
2.阻抗計(f:±5×10-6,R1:±10%)
3.絕緣電阻測試儀(±20%)
4.精密電容測試儀(±0.1%±0.003PF)
5.恒溫箱(±0.1℃)
6.溫度計(-50-+50℃,0-100℃)
7.鑷子(中號)
8.各種電容夾具
9.晶體插板
10.器件測試回流焊(M6/M7/M8)
測試前準備工作
1.將所需電子儀器接通電源,預熱30分鐘以上。
2.查看技術(shù)條件,了解測試內(nèi)容。
操作過程
絕緣電阻測試
1.調(diào)整好絕緣電阻測試儀(電壓100V±15V)。
2.用儀器表筆碰被測石英晶體元件的外殼與引線間(晶片電極引線),測量其之間的絕緣電阻。
3.測得的絕緣電阻應(yīng)符合產(chǎn)品標準,否則判為不合格。
并電容測試
1.調(diào)整好精密電容測試儀。
2.用儀表筆測量被測石英晶振元件的并電容,測得的電容值應(yīng)符合產(chǎn)品標準,否則判為不合格。
諧振頻率及諧振電阻的測試
基準溫度條件下,石英晶體元件的諧振頻率及諧振電阻的測試。
1.將被測石英晶體諧振器放在基準溫度(該產(chǎn)品標準所規(guī)定的溫度)下至少放置1小時。
2.調(diào)整好頻率計阻抗計。
3.在阻抗計上測試被測石英晶體元件的諧振頻率,其值與標稱頻率之差應(yīng)符合產(chǎn)品標準,否則為不合格。
4.測石英晶體元件的諧振電阻,則在阻抗計上將石英晶體元件的諧振電阻與標準電阻相比較。
比較方法
A高頻石英晶體元件
首先將與產(chǎn)品標準相符合的標準電阻插在阻抗計上,看其柵流幅度。再將石英晶體元件插在阻抗計上看其柵流幅度(當石英晶體元件要求諧振電阻時石英晶體元件直接插在阻抗計上,當石英晶體元件要求是負載諧振電阻時,則石英晶體元件插在電容夾具上,然后插在阻抗計上。)
如插石晶體元件的阻抗計柵流大于插標準電阻時的阻抗計柵流,則判為合格,否則判為不合格。
B低、中頻石英晶體元件
在阻抗計上用電位器測出負載諧振電阻(諧振電阻)值,然后插入晶體插孔,記下此時電壓表指針位置。
實測石英晶體元件,若諧振時電壓表指針位置超過4中位置時,則此晶體元件的阻值為合格,否則為不合格。
低溫條件下石英晶體元件的諧振頻率及諧振電阻的測試。
1.將石英晶體元件放在低溫恒溫箱內(nèi)按產(chǎn)品標準工作溫度的下限恒溫半小時以上。
2.重復上述相同工步。
3.注:要求總頻差時,用低溫時實測頻率與標準頻率相減,要求溫度頻差時,用低溫時實測 頻率與基準溫度時實測頻率相減,以下高溫測試也如此。
4.將被測石英晶體元件放在高溫恒溫箱內(nèi)按產(chǎn)品標準工作溫度的上限恒溫半小時以上。
5.重復上述相同工步。
串并間隔的測試(在常溫條件下測試)
1.調(diào)整好頻率計,阻抗計。
2.按產(chǎn)品標準在阻抗上分別測出被測石英晶體元件在兩種(或多種)負載電容情況下的頻率。
3.計算出的頻率差值,其值應(yīng)符合產(chǎn)品標準,否則判為不合格。
注意事項
測試時頻率計數(shù):高頻石英晶體元件以第三次顯示的數(shù)字為準,中、低頻石英晶體元件以第二次顯示的數(shù)字為準。
為確保晶振在焊接方面不會出現(xiàn)的高溫與加熱速率影響品質(zhì),我們要求對晶振模擬焊接條件進行,由器件測試回流焊(力鋒M系列測試回流焊)焊接高溫測試,通過對晶振進行測試可確定出不良的晶振器件
上錫測試,通過將錫膏熔接其引腳,可抽測晶振引腳上錫是否良好。
以上是石英晶振測試的全部內(nèi)容,希望對大家有所幫助。保證好的晶振品質(zhì)是yxc揚興科技的最大價值,“品質(zhì)為本,服務(wù)為根”一直是我們倡導的經(jīng)營理念。如果您遇到晶振測試方面的問題,別擔心!我們有專業(yè)的技術(shù)人員免費提供產(chǎn)品測試服務(wù)。