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一.布局問(wèn)題: 1.【問(wèn)題分析】:晶振的布局存在問(wèn)題,其對(duì)應(yīng)的鋁箔電容沒(méi)有起到作用. 【問(wèn)題改善建議】:晶振的布局考慮π型濾波,先經(jīng)過(guò)濾波電容濾波后接入晶振。 二.布線問(wèn)題: 1.【問(wèn)題分析】:電容電阻中間的銅皮沒(méi)有割掉,一方面影響生產(chǎn)工藝,一方面干擾信號(hào)。 【 問(wèn)題改善建議】:建議在電容電阻的封裝中放置cutout,對(duì)其割除。 2.【問(wèn)題分析】:一個(gè)地的銅皮分兩次鋪,沒(méi)必要。 【問(wèn)題改善建議】:整體敷地銅,可以選中板框,快捷鍵TVG。 3.【問(wèn)題分析】:在GND1層,入下圖所示存在多余的銅皮。 【問(wèn)題改善建議】:建議將多余的銅皮刪掉。 4.【問(wèn)題分析】:導(dǎo)線沒(méi)連接到焊盤(pán)中心,容易出現(xiàn)虛焊的情況;且如下圖所示,與GND網(wǎng)絡(luò)短接,這樣會(huì)出現(xiàn)短路的情況。 【問(wèn)題改善建議】:建議修改,可以shift+E抓取中心。 5.【問(wèn)題分析】:過(guò)孔打在焊盤(pán)上了,容易出現(xiàn)漏錫的情況。 【問(wèn)題改善建議】:建議在焊盤(pán)附近的空閑處打孔。 6.【問(wèn)題分析】:入下圖所示,導(dǎo)線都沒(méi)連接到焊盤(pán)的中心,只是粘上一點(diǎn),這樣會(huì)虛焊,出現(xiàn)開(kāi)路。 【問(wèn)題改善建議】: 7.【問(wèn)題分析】:電容電阻中間穿線了,焊接時(shí)容易短路。 【問(wèn)題改善建議】:建議移開(kāi),或者打孔換層走線。 8.【問(wèn)題分析】:Flash的處理存在問(wèn)題,其所有的信號(hào)線需等長(zhǎng)。 【問(wèn)題改善建議】:建議進(jìn)行等長(zhǎng)處理。 9.【問(wèn)題分析】:晶振下方穿線了,其下方的信號(hào)線會(huì)受到干擾。 【問(wèn)題改善建議】:建議對(duì)晶振進(jìn)行包地隔離處理,且將下方的線移開(kāi)。 三.生產(chǎn)工藝: 1.【問(wèn)題分析】:所有的過(guò)孔都開(kāi)窗了,生產(chǎn)后,裸露的部分容易被腐蝕,產(chǎn)生短路的情況。 【問(wèn)題改善建議】:建議進(jìn)行蓋油處理。 2.【問(wèn)題分析】:pcb中絲印沒(méi)有調(diào)整,生產(chǎn)時(shí)會(huì)發(fā)生缺失和不清的情況。 【問(wèn)題改善建議】:建議將絲印統(tǒng)一進(jìn)行調(diào)整。 3.【問(wèn)題分析】:板框線的keepout屬性勾選了,出gerber文件時(shí)會(huì)沒(méi)有板框。 【問(wèn)題改善建議】:建議將keepout屬性的勾去掉。 . S: g% m% @& I5 m: ~
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