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引言
/ Q" [; g% u! ]& u人工智能(AI)和機(jī)器學(xué)習(xí)(ML)技術(shù)的需求正以驚人的速度增長(zhǎng),遠(yuǎn)超摩爾定律的預(yù)測(cè)。自2012年以來,AI計(jì)算需求以每年4.1倍的速度指數(shù)增長(zhǎng),為半導(dǎo)體制程縮放和集成帶來重大挑戰(zhàn)。為應(yīng)對(duì)這些需求,業(yè)界采用了基于Chiplet的設(shè)計(jì)方法,將較大系統(tǒng)分解為更小、更易于管理的組件,這些組件可以分別制造并通過先進(jìn)封裝技術(shù)進(jìn)行集成[1]。
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先進(jìn)封裝技術(shù)3 B% @$ t @# f" M3 r4 \
先進(jìn)封裝技術(shù)可以大致分為2D、2.5D和3D方法。2.5D集成技術(shù),包括晶圓級(jí)芯片堆疊(CoWoS)和集成扇出型封裝(InFO),在高性能計(jì)算應(yīng)用中獲得了顯著發(fā)展。3 n) `1 k) a( W7 a5 Y: F
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$ t1 q# y1 q" E5 c7 P3 a' @" t5 U圖1:臺(tái)積電3D Fabric技術(shù)組合,展示了包括CoWoS、SoIC和InFO平臺(tái)在內(nèi)的各種封裝選項(xiàng),滿足不同集成需求。
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CoWoS技術(shù)提供三種主要變體:
2 ^+ K4 l) A, E- N1. CoWoS-S:采用硅中介層實(shí)現(xiàn)密集金屬布線
0 O1 f& E1 U. n5 f2. CoWoS-R:在有機(jī)中介層中使用重布線層
# n8 ~( X+ h/ |8 ?, D3. CoWoS-L:結(jié)合-R和-S兩種方案的優(yōu)勢(shì)
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, g, c% x1 S3 K3 i5 e/ O5 ~( sInFO平臺(tái)已從移動(dòng)應(yīng)用發(fā)展到高性能計(jì)算,提供多種選項(xiàng),包括局部硅橋接和嵌入式去耦電容,以實(shí)現(xiàn)更好的供電性能。* ]. E3 {; m" V' y9 G
4 @, Z; p; r1 |7 Y" \芯片間互連應(yīng)用8 k% B' G: l; H9 y5 W
芯片封裝的演進(jìn)帶來了各種凸點(diǎn)間距縮放選項(xiàng),從傳統(tǒng)MCM封裝(110-130μm間距)到先進(jìn)的2.5D封裝(40μm間距)和3D集成(9μm或更小間距)。
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圖2:凸點(diǎn)間距縮放視角,展示了從MCM到先進(jìn)封裝技術(shù)的演進(jìn),隨著間距減小帶寬密度不斷提高。
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現(xiàn)代Chiplet系統(tǒng)中使用不同的互連技術(shù)服務(wù)于不同目的:
; g) N+ g, m& [2 T計(jì)算到計(jì)算及IO連接使用UCIe PHY計(jì)算到內(nèi)存連接使用HBM PHY計(jì)算到SRAM連接通過3D堆疊實(shí)現(xiàn)IO chiplet到外部IO使用XSR-SerDes
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; V, h& { B! Y+ q6 X4 V圖3:芯片間互連應(yīng)用,展示了計(jì)算芯片、內(nèi)存和IO組件之間的不同類型連接。
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設(shè)計(jì)考慮和挑戰(zhàn)8 o4 k0 h9 t$ f8 I/ s1 @$ u
通道優(yōu)化在實(shí)現(xiàn)最佳信號(hào)完整性和可布線性方面發(fā)揮關(guān)鍵作用。設(shè)計(jì)人員必須平衡各種因素,包括介電層厚度、金屬間距、層厚度和過孔封裝規(guī)則。
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M, I2 j6 F+ M6 L圖4:通道可布線性和信號(hào)完整性優(yōu)化,展示了中介層子部分設(shè)計(jì)和相應(yīng)的信號(hào)完整性測(cè)量。" K6 I2 N& q* ]2 J& B
# Z! R% G5 B# W" Q供電代表另一個(gè)關(guān)鍵挑戰(zhàn),尤其是在電流密度不斷增加的情況下,F(xiàn)代解決方案包含多級(jí)去耦電容:
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$ ]' y g3 }3 A圖5:供電網(wǎng)絡(luò)的去耦電容策略,展示了不同類型電容及其在系統(tǒng)中的布置。
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K* d. D8 R3 W未來趨勢(shì)和發(fā)展+ R" Z4 C% `. L+ I [
業(yè)界持續(xù)追求更高的帶寬密度和能源效率。技術(shù)制程縮放在實(shí)現(xiàn)這些改進(jìn)方面發(fā)揮核心作用。; s+ _; ?! T2 v! B/ }; g3 e
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5 t+ v/ o' h! H6 S3 T圖6:技術(shù)和帶寬縮放趨勢(shì),展示了數(shù)據(jù)速率、凸點(diǎn)間距和制程節(jié)點(diǎn)之間的關(guān)系。( o* |! x( ~; w' o: ~+ m' O
' H% ]) O" n1 }& V8 x4 O& n) J對(duì)于更大規(guī)模集成,晶圓級(jí)封裝變得越來越重要。這種方法允許超越傳統(tǒng)光罩尺寸限制的集成。
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圖7:晶圓級(jí)系統(tǒng)擴(kuò)展示意圖,展示了多個(gè)Chiplet和HBM內(nèi)存在晶圓級(jí)系統(tǒng)中的集成。7 e6 I! j/ l9 K, L# [
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結(jié)論" S1 g7 N+ ^: i9 y4 |6 Y/ y
高帶寬Chiplet互連是下一代計(jì)算系統(tǒng)的核心技術(shù)。通過仔細(xì)考慮封裝技術(shù)、互連架構(gòu)和設(shè)計(jì)優(yōu)化,這些系統(tǒng)能夠?yàn)橐髧?yán)格的AI和ML應(yīng)用提供所需的性能。隨著行業(yè)不斷發(fā)展,供電、散熱和系統(tǒng)集成方面的新挑戰(zhàn)將推動(dòng)該領(lǐng)域的進(jìn)一步創(chuàng)新。
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參考文獻(xiàn)
/ `$ D- ^- G, `: @4 T6 j[1] S. Li, M. Lin, W. Chen and C. Tsai, "High-bandwidth Chiplet Interconnects for Advanced Packaging Technologies in AI/ML Applications: Challenges and Solutions," IEEE Open Journal of the Solid-State Circuits Society, 2024, doi: 10.1109/OJSSCS.2024.3506694
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