3月16日PCB可測試性自動仿真提升產(chǎn)品質(zhì)量線上研討會

admin · 發(fā)表于 2022-3-2 09:51:37

1. Webinar主題：

PCB可測試性自動仿真提升產(chǎn)品質(zhì)量

2. Webinar時間：Mar-16, 8:00PM

3. Webinar 內(nèi)容簡介：

隨著產(chǎn)品多品種小批量的發(fā)展趨勢，產(chǎn)品良率不斷面臨巨大的挑戰(zhàn)，如何能最有效的發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)缺陷并最快速的進行定位維修變得尤其重要。

傳統(tǒng)的可測試性分析流程是不完善的，大多數(shù)時候，他們都是在layout的最后階段才考慮DFT問題，并且是通過人工檢查的方式進行可測試性評審。

低效的可測試性分析意味著設(shè)計無法很好的進行ICT測試，這樣會給功能測試工序帶來壓力。ICT測試覆蓋率低，意味著高的ICT測試通過率，但相反，這意味著很多不良板無法被ICT發(fā)現(xiàn)，而被漏失到功能測試，分析功能不良往往需要花費更多的時間和成本。這表示更多無法維修的單板會面臨報廢，甚至?xí)绊懏a(chǎn)品出貨以及公司利潤。

最佳實踐的高效可測試性策略是將可測試性分析左移到整個新產(chǎn)品設(shè)計流程中，并使用PCB可測試性工具來提升測試覆蓋率，從而提升產(chǎn)品的設(shè)計質(zhì)量。

通過此次研討會，我們將展示客戶如何在Valor DFM工具中高效的進行PCB可測試性自動仿真，提升測試覆蓋率和產(chǎn)品質(zhì)量，從而提升企業(yè)的競爭優(yōu)勢。

4. 學(xué)習(xí)/內(nèi)容亮點：（5條左右）

1) 如何避免AOI過程中的陰影效應(yīng)

2) 如何提升ICT測試覆蓋率

3) 如何減少因功能維修造成的成本損失

4) 測試策略的最佳實踐

5. 職業(yè)涵蓋范圍

1) 測試工程師

2) 硬件工程師

3) pcb設(shè)計工程師

4) DFM工程師

5) 工藝工程師

6) 供應(yīng)商質(zhì)量工程師

6. 產(chǎn)品涵蓋范圍

Valor NPI

7. 講師照片與介紹

季伸彪在西門子EDA擔(dān)任技術(shù)市場工程師，2019年加入西門子EDA團隊。在此之前曾在國內(nèi)大型EMS公司及國內(nèi)知名通訊公司任職，深刻了解DFM在PCB設(shè)計與制造中的優(yōu)勢，2006年開始從事DFM相關(guān)崗位，2011年開始從事Valor NPI技術(shù)相關(guān)崗位。

隨著產(chǎn)品多品種小批量的發(fā)展趨勢，產(chǎn)品良率不斷面臨巨大的挑戰(zhàn)，如何能最有效的發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)缺陷并最快速的進行定位維修變得尤其重要。

傳統(tǒng)的可測試性分析流程是不完善的，大多數(shù)時候，他們都是在Layout的最后階段才考慮DFT問題，并且是通過人工檢查的方式進行可測試性評審。

低效的可測試性分析意味著設(shè)計無法很好的進行ICT測試，這樣會給功能測試工序帶來壓力。ICT測試覆蓋率低，意味著高的ICT測試通過率，但相反，這意味著很多不良板無法被ICT發(fā)現(xiàn)，而被漏失到功能測試，分析功能不良往往需要花費更多的時間和成本。這表示更多無法維修的單板會面臨報廢，甚至?xí)绊懏a(chǎn)品出貨以及公司利潤。

最佳實踐的高效可測試性策略是將可測試性分析左移到整個新產(chǎn)品設(shè)計流程中，并使用PCB可測試性工具來提升測試覆蓋率，從而提升產(chǎn)品的設(shè)計質(zhì)量。

l Valor DFM工具如何幫您解決產(chǎn)品的可測試性問題。

Valor NPI可提供數(shù)十項DFM檢查，可以支持所有類型的單板驗證：普通基板，柔性板，剛?cè)峤Y(jié)合板，甚至于封裝基板等

l Valor 3D元件庫使能更精準(zhǔn)的可測試性分析

西門子EDA擁有行業(yè)最完整的3D元器件模型庫，通過輕松的一鍵單擊，就可以獲得通過ISO標(biāo)準(zhǔn)的上十億規(guī)模的元器件模型，利用模型庫可以實現(xiàn)虛擬的數(shù)字化可測試性分析。

l Valor NPI是唯一具有“制造”驅(qū)動引擎的自動DFM分析軟件

Valor NPI能夠智能的識別和分析PCB設(shè)計數(shù)據(jù)，然后根據(jù)設(shè)計數(shù)據(jù)自動識別產(chǎn)品類型和測試要求，自動匹配對應(yīng)的可測試性規(guī)則，整個過程不需要人工介入，實現(xiàn)高效智能的可測試性分析。

l EDA工具與Valor DFM工具的集成讓真正的并行設(shè)計成為可能

Valor Concurrent DFM方案將Valor NPI完全集成在Layout環(huán)境中，讓用戶可以在設(shè)計階段就讓您的產(chǎn)品執(zhí)行可測試性檢查, 一切都在熟悉的Layout軟件環(huán)境內(nèi)完成，真正實現(xiàn)并行的可測試性設(shè)計。