應(yīng)用于傳感器中的模數(shù)轉(zhuǎn)化器MS1549參數(shù)與兼容TI的1549

鑫邦旺電子科技

MS1549描述

MS1549是一個(gè)10位開關(guān)電容器，逐次逼近型的AD轉(zhuǎn)換器。這個(gè)芯片有2個(gè)數(shù)字輸入端，1個(gè)三態(tài)輸出口(CS)，1個(gè)I/O CLOCK端口和1個(gè)數(shù)字輸出端（DATA OUT）,可以實(shí)現(xiàn)一個(gè)三總線接口到總控制器的串行口的數(shù)據(jù)傳輸。內(nèi)部具有自動(dòng)采樣保持、可按比例量程校準(zhǔn)轉(zhuǎn)換范圍、抗噪聲干擾功能,而且開關(guān)電容設(shè)計(jì)使在滿刻度時(shí)總誤差最大僅為±1 LSB ,因此可廣泛應(yīng)用于模擬量和數(shù)字量的轉(zhuǎn)換電路。

特點(diǎn)

10位分辨率的A/D轉(zhuǎn)換器

內(nèi)部取樣保持功能

總共不可調(diào)最大誤差為±1LSB

片內(nèi)系統(tǒng)時(shí)鐘

引腳兼容TLV1549

COMS 工藝

替代方案

MS1549 pin=pin TLV1549

MS1549 pin=pin TLC1549

封裝

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內(nèi)部框圖

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管腳描述

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典型應(yīng)用圖

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功能描述

當(dāng)CS為高電平時(shí)，I/O CLOCK為初始禁止?fàn)顟B(tài)、DATA OUT為高阻抗?fàn)顟B(tài)。當(dāng)串口將CS拉低后，隨著CLOCK和DATA OUT的使能開始轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)。然后串口開始提供一個(gè)順序時(shí)鐘，同時(shí)接受DATA OUT上次的轉(zhuǎn)換結(jié)果。通過串口設(shè)置CLOCK口10-16個(gè)時(shí)鐘周期，在第一次的10個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)完成模擬信號(hào)的取樣。

模擬輸入采樣：

在第3個(gè)時(shí)鐘下降沿后開始模擬輸入采樣，采樣持續(xù)7個(gè)時(shí)鐘周期。采樣的值在第10個(gè)時(shí)鐘下

降沿被保持。

轉(zhuǎn)換器和模擬輸入：

對(duì)于連續(xù)逐次逼近型的模數(shù)轉(zhuǎn)換器MS1549 ,CMOS 門限檢測(cè)器通過檢測(cè)一系列電容的充電電壓決定A/D 轉(zhuǎn)換后的數(shù)字量的每一位。在轉(zhuǎn)換過程的第一階段，模擬輸入量同時(shí)關(guān)閉SC 和ST 進(jìn)行充電采樣, 這一過程使所有電容的充電電壓之和達(dá)到模數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸入電壓。轉(zhuǎn)換過程的第二階段打開所有SC 和ST, CMOS 門限檢測(cè)器通過識(shí)別每一只電容的電壓確定每一位, 使其接近參考電壓。在這個(gè)過程中, 10 只電容逐一檢測(cè), 直到確定轉(zhuǎn)換的十位數(shù)字量。在轉(zhuǎn)換的第一步，門限檢測(cè)器檢測(cè)第一個(gè)電容（weight=512），該電容節(jié)點(diǎn)512切向REF+上，所有其他電容的相同節(jié)點(diǎn)處按順序切向REF-上，如果總結(jié)點(diǎn)的電壓大于門限檢測(cè)器那點(diǎn)的電壓（接近于VCC的一半），位“0”被送至輸出寄存器，然后節(jié)點(diǎn)512切換到REF-上；如果總結(jié)點(diǎn)的電壓小于門限檢測(cè)器那點(diǎn)的電壓，位“1”被送至輸出寄存器，通過剩下的逐次逼近的過程，512-weight的電容仍連接在REF+上。對(duì)于256-weight 的電容和128 -weight 的電容也要通過連續(xù)逐次逼近型的重復(fù)操作,直到確定從高位(MSB) 到低位( LSB) 所有數(shù)字量, 即為初始的模擬電壓數(shù)字量。

詳細(xì)資料可以聯(lián)系我

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