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系統(tǒng)級封裝(SiP)技術(shù)

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發(fā)表于 2024-11-22 08:00:00 | 只看該作者 |只看大圖 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
Si3P框架簡介
2 B, n0 y( Y7 H! W% `& J" D系統(tǒng)級封裝(SiP)代表電子封裝技術(shù)的重大進步,將多個有源和無源元件組合在單個封裝中。本文通過Si3P框架探討SiP的基本概念和發(fā)展,包括集成、互連和智能三個方面[1]。! K  J9 f( Y* Q; G$ y

' d2 i7 ]: J% s0 k$ M/ GSiP概念可以通過Si3P更好地理解,將"i"擴展為三個關(guān)鍵要素:集成、互連智能' U8 u, S+ l* U- ~
0 [# H7 j2 B* \) f, ^7 N% [
圖1展示了SiP向Si3P的擴展,說明一個"i"如何轉(zhuǎn)變?yōu)榇砑伞⒒ミB和智能的三個"i"。' j$ I+ A/ v' S# t; K
& S! I7 l; I8 i& m- f( a( |
SiP的集成層次- u4 x+ `+ N* K! D5 K/ N
SiP集成發(fā)生在三個不同層次:芯片級印制電路板級封裝級。每個層次都具有獨特的挑戰(zhàn)和系統(tǒng)開發(fā)機會。3 E; b' ^) J! [7 G

( h, C5 ^8 A; q5 T0 }8 v  j% M4 [圖2展示了電子系統(tǒng)集成的三個層次,顯示了從芯片到封裝再到印制電路板的層次結(jié)構(gòu)。
% K( E" Z. u5 e; p$ J9 N8 J& T" ?- a* V
互連架構(gòu)
3 ?8 t3 Z6 S& z( t- f+ y8 z* FSiP的互連包括三個主要領(lǐng)域:電磁(EM)熱力力學。對于電磁互連,信號完整性和傳輸路徑優(yōu)化尤為重要。
' Q: K1 \7 ~' n- \6 J
& g% D! y) O$ h6 x圖3顯示了從芯片到封裝的信號傳輸路徑,說明了各種互連元素。
% a3 J, g% j# Q/ l- x* E' o
& y' L7 L! C, s3 g* P熱管理方案6 Z+ |8 [/ e) W4 X
SiP的熱管理需要仔細考慮熱傳遞路徑。熱結(jié)構(gòu)函數(shù)曲線有助于分析散熱特性。1 u3 R0 u  w) I! R: `
& ~% k! \/ T, G+ b$ l
圖4顯示了熱結(jié)構(gòu)函數(shù)曲線,展示了不同材料的熱阻和熱容量變化。* @5 y6 c& R6 f/ K7 ]4 d7 V
* G% u0 H! {2 J: t3 C# P% X# r
對于高功率應用,可能需要特殊的散熱通道來有效管理熱量。
* l% a0 b; N1 t. Q
- Y- ]6 g. z# Z. S9 i% n8 x- n圖5說明了SiP設(shè)計中通過特殊散熱通道進行散熱的方式。
; Y7 J' c2 y2 `2 c9 X$ a5 X' B
& X5 B( q6 }4 u$ T機械設(shè)計考慮
) k' g5 [) A9 U. O1 m+ \- b% Z2 [力學互連處理影響封裝的外部和內(nèi)部力。QFN和QFP等不同封裝類型具有不同的力學處理能力。$ G- _+ S* e- V

* J$ z, C/ r* x$ t9 g2 C3 h圖6比較了QFN和QFP封裝類型,展示其不同的結(jié)構(gòu)特征。; L1 a% ^( a( C+ v0 r& i7 y. F! y

: z  ^8 v) R& l# r) C智能化與測試策略9 z+ b0 ?  L, ?, a+ g" B8 k
SiP的智能化包括系統(tǒng)功能、測試和軟件集成。5 A! l  p! t' i* T
測試包括機器級和板級驗證。
2 N- l! m% m# |5 ?
6 _) v; W: j+ @1 n2 U圖7解釋了SiP器件的機器測試原理。
( t1 V8 E% P! _% y! `+ K  R8 F
) q* O: f$ @/ }1 g- {! d5 n歷史演進
, n4 Y  Z- A2 ]& {, e) T電子集成的歷史發(fā)展顯示了SiP如何成為關(guān)鍵技術(shù)。2 M: |) N" k' j" N3 ]" u

$ r9 v' |7 f9 `5 q圖8展示了印制電路板、封裝和集成電路技術(shù)的集成歷史,顯示其并行發(fā)展。4 d! H: T6 N9 _3 O1 \

) L2 x. ]8 d: S概念框架與未來展望+ y+ m5 P8 _4 t. `% O, s
Si3P概念可以通過類比來理解:集成類似于建造房屋,互連類似于修建道路,智能類似于人類居住者。1 F- c% O% m7 g# h. C2 g9 l

3 O4 }7 }: V+ j* i5 y9 Y. f+ D圖9總結(jié)了Si3P概念,顯示物理結(jié)構(gòu)、能量傳遞和功能應用之間的關(guān)系。, B  E9 R( M3 S
& `* r  u( U. W- p% N2 ?0 W
隨著技術(shù)發(fā)展,SiP技術(shù)繼續(xù)發(fā)展新的集成方法和互連策略。在后摩爾定律時代,傳統(tǒng)縮放面臨物理限制時,這項技術(shù)顯示出特殊優(yōu)勢。
9 T- H9 u3 A" u# S$ r   X$ g' d( |# K' y% X, ^8 J
圖10提供了Si3P的概念理解,說明其三個主要組成部分。# {2 n! J) i# o6 a; v5 v6 C' N

4 U( h! e( X3 U9 t+ z應用與實施  [; j  ?* a- }# D! e  ~& Z
這項技術(shù)在消費電子到航空航天等多個領(lǐng)域得到應用。現(xiàn)代智能手機就集成了多個協(xié)同工作的SiP系統(tǒng)。每個SiP可以處理特定功能,如感測、處理或通信,同時保持與其他系統(tǒng)組件的兼容性。
2 I* J& |% k8 [1 N) q# V$ r" j* v' P" [9 o
SiP設(shè)計需要仔細考慮應用場景。例如,用于空間探索的SiP必須考慮輻射效應和自主運行能力,而用于智能手機的SiP則必須優(yōu)先考慮功率效率和緊湊形態(tài)。4 c1 A0 i' s& P8 a0 {

' \1 |7 C0 B1 C' X; X' v測試和調(diào)試是SiP開發(fā)中的重要部分,通常占用超過一半的開發(fā)時間。各種測試,包括功能、性能、機械強度、熱沖擊和可靠性測試,確保最終產(chǎn)品的穩(wěn)定性。/ u. T- q) ~5 j+ r4 J0 R; v% o2 p$ f

* C6 q7 G' P0 d8 `" x軟件在SiP功能中發(fā)揮著越來越重要的作用。硬件和軟件之間存在相互依存的關(guān)系:硬件提供物理平臺,軟件實現(xiàn)功能和智能。這包括基本操作的系統(tǒng)軟件、特定功能的應用軟件和驗證與調(diào)試的測試軟件。; B/ X# l. z9 o3 h3 y0 e5 E
: l7 f6 S* y' @! s
參考文獻9 M) A) o1 F$ G% _8 g
[1] S. Li, "From SiP to Si3P," in MicroSystem Based on SiP Technology, S. Li, Ed. Beijing: Publishing House of Electronics Industry, 2022, pp. 29-65.& Z! W* J9 q/ ~; [$ E3 E: v2 x9 d
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歡迎轉(zhuǎn)載2 u# O/ b2 o" f( A( L

4 d7 {/ Y) @  u5 L轉(zhuǎn)載請注明出處,請勿修改內(nèi)容和刪除作者信息!
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