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反激式電源為什么上電最容易燒MOS管?

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發(fā)表于 2024-11-26 11:10:00 | 只看該作者 |只看大圖 回帖獎(jiǎng)勵(lì) |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
大家好,這里是大話硬件。
% o4 r6 w9 f; K$ P這篇文章總結(jié)一下最近在研究的反激電源RCD吸收回路和VDS尖峰問(wèn)題。這也是為什么MOS管在開(kāi)機(jī)容易被電壓應(yīng)力擊穿的原因。* @1 N% j0 I9 K5 t
下圖是反激電源變壓器部分的拓?fù)洹?br />   Z# \! p1 r" x2 I* {" y) \* t! z8 d7 H& I, L! f6 C
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在MOS開(kāi)通時(shí),VDS上電壓:6 e0 C% N$ ]  K, z% }

2 q+ R) Y& X7 P+ F6 Z3 n5 B; r由于Rdson比較小,MOS開(kāi)通時(shí),VDS電壓也較小。此時(shí),MOS漏極電壓應(yīng)力較小。
! [& g& p- D. ]9 l  X然而,MOS關(guān)斷時(shí),此時(shí)漏極會(huì)承受較大電壓應(yīng)力,因此會(huì)在變壓器初級(jí)繞組上增加RCD吸收電路,用來(lái)吸收較大尖峰電壓,防止MOS因電壓應(yīng)力出現(xiàn)雪崩擊穿。
5 b# u7 f. n1 \% D  `/ E5 y于是,在電路中經(jīng)?吹竭@種方案。當(dāng)然還有多種類(lèi)型變種,如使用TVS或者穩(wěn)壓管,無(wú)論是哪種方案類(lèi)型,本質(zhì)都是吸收MOSFET關(guān)斷時(shí)尖峰電壓。+ {+ `  t1 p* C2 C
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尖峰產(chǎn)生原因主要來(lái)自變壓器漏感,而漏感來(lái)源有兩種途徑:0 @$ L8 O8 _0 N. k% L
(1)來(lái)源于變壓器本體,在骨架上繞線時(shí),繞線疏密程度,分層繞組還是多組并繞制,這些不同的繞制方式,漏感均存在差異;如下圖中紅色和藍(lán)色繞線。% U1 C: ^5 w) J# J+ t

# Y, b! D0 _7 \' M2 h8 l# y) h' b, o(2)來(lái)源于變壓器骨架焊接腳和線圈之間的線纜,變壓器線圈和骨架之間需要浸錫并焊接成型,如果繞線離變壓器骨架管腳較遠(yuǎn),則有較長(zhǎng)的線纜并未和磁芯耦合。為了減少這部分漏感,貼片比直插就存在明顯的優(yōu)勢(shì)。8 ^0 J0 ^: P! D2 B

6 {' L( Y- S9 X& I4 x* B : O2 H, K7 M' J: m' X0 B
以上兩種情況如果變壓器廠家設(shè)計(jì)比較差,則變壓器漏感比較大,那么漏感為什么會(huì)產(chǎn)生尖峰呢?+ \8 }5 H# J% U6 H5 v% P. [
用下面模型,可以從能量角度理解。
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( t/ y/ t* a8 U反激式開(kāi)關(guān)電源不能用在大功率電源中,主要是變壓器體積和功率限制。在MOS開(kāi)通時(shí),變壓器需要存儲(chǔ)能量,在MOS關(guān)斷時(shí)才釋放,因此,能量傳遞到后級(jí)的大小和變壓器緊密相關(guān)。& {& u5 |0 ]3 B5 n- k( z3 C+ ?8 a' y
同時(shí),由于變壓器是磁芯器件,還存在飽和風(fēng)險(xiǎn),因此反激變壓器還要考慮變壓器磁芯復(fù)位,占空比不能太大,磁芯要留氣隙,多種因素導(dǎo)致反激不適合用在大功率電源中。
' F: O0 X3 Y* m0 D正是因?yàn)樯厦嬖,反激式開(kāi)關(guān)電源只能在MOSFET關(guān)斷時(shí)傳遞能量,而初級(jí)繞組向次級(jí)傳遞能量主要靠變壓器骨架內(nèi)包裹的磁芯。變壓器存在漏感,這部分漏感不會(huì)和磁芯產(chǎn)生耦合。另外,還有一些磁場(chǎng)并不會(huì)乖乖的通過(guò)磁芯向次級(jí)傳遞能量,而是在空氣中形成閉合路徑。
! M& T: H/ I; V8 e: X所以,MOSFET關(guān)斷時(shí),總有一部分能量會(huì)因?yàn)闊o(wú)法傳遞而表現(xiàn)出較高電壓來(lái)維持開(kāi)通時(shí)狀態(tài),這就出現(xiàn)了尖峰電壓。
) K7 R( [( P6 N, l! s  }4 s
6 M, |0 N/ A, o& t( v7 O即使漏感能量很低,但是dt在ns級(jí)別,因此,還是會(huì)感應(yīng)出較高的電動(dòng)勢(shì)。& R! i6 w$ e5 u
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下面詳細(xì)分析RCD電路工作過(guò)程。' y" V% `! j$ h/ C; y# z
第一步:上電,此時(shí)芯片還未輸出PWM,C電容充電到Vbus
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用下面的反激式電源進(jìn)行仿真驗(yàn)證2 M" Q6 i% W# O  k) \% Z2 ]( R" E- ?
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設(shè)定漏感為1uH- }5 V: g$ k! A# E* S3 h

/ k4 H7 \* C2 s) {" u上電啟動(dòng)時(shí)探針RCD的波形,從波形可以看出,系統(tǒng)剛上電時(shí),芯片還未工作,此時(shí)MOSFET沒(méi)有動(dòng)作,VC等于輸入電壓60V。理論和實(shí)際相符合。. A5 B0 K) S# y/ c+ K" i1 f9 H
$ S" ]+ {0 i! T# Z1 }
第二步:芯片達(dá)到工作電壓,開(kāi)始輸出PWM,開(kāi)關(guān)導(dǎo)通,此時(shí)變壓器開(kāi)始電感電流上升,漏感電流也上升,在MOS開(kāi)通后,Coss電容已經(jīng)放電完成4 Y0 X: a! w3 G5 k& j* W5 f) [
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因?yàn)閯偵想奦C電壓已經(jīng)達(dá)到60V,在MOS開(kāi)通時(shí),VDS=0V,此時(shí)VC電壓明顯高于VDS,所以此時(shí)二極管反偏截止,Coss通過(guò)MOS放電,變壓器初級(jí)繞組和漏感開(kāi)始積累能量。' P3 }6 m% L& H  N: J7 T2 h
第三步:開(kāi)關(guān)關(guān)閉,漏感中的能量無(wú)法傳遞到次級(jí),漏感會(huì)產(chǎn)生下正上負(fù)的電壓,此時(shí)VDS的電壓開(kāi)始上升  ]7 A2 f* C$ d# ?' d1 P- i/ e+ B
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在VDS電壓上升初期,VC的電壓等于Vbus,此時(shí)二極管一直是關(guān)斷的,但是當(dāng)副邊二極管開(kāi)通后,反射到原邊的電壓Vor和漏感的電壓Vk會(huì)使VDS的電壓超過(guò)Vbus,注意,電容Vc的電壓是疊加在Vbus上,也就是VC在超過(guò)后該電壓后,二極管才開(kāi)通。" n2 }+ B( a  V4 p9 a$ x6 ?
第四步:當(dāng)VDS的電壓大于VIN+Vc電容中的電壓時(shí),此時(shí)二極管開(kāi)始導(dǎo)通,漏感和副邊反射過(guò)來(lái)的電壓VOR+Vbus+Vk給C充電,一直充電到最大值VDS出現(xiàn)
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4 |5 g' s2 `8 Y+ d. r" F7 ?6 O/ ~此時(shí),因?yàn)槁└兄械哪芰吭诓粩嘟oC充電,Coss充電,所以,VDS的電壓會(huì)不斷增加,直到漏感中的能量消耗殆盡,VDS的電壓達(dá)到尖峰電壓的最大值。$ z; ^, h+ K9 Y+ D
第五步:此時(shí)漏感中的能量消耗殆盡,漏感電壓0,此時(shí)VDS的電壓開(kāi)始下降,二極管會(huì)因?yàn)榉雌刂,此時(shí)電容C對(duì)電阻放電,Coss的能量開(kāi)始給漏感充電8 H5 @/ E( P0 j: m- E

: s5 `5 b4 Z9 d4 L3 i此時(shí)coss給漏感充電,VDS的電壓開(kāi)始下降,當(dāng)coss電容放電結(jié)束后,此時(shí)VDS的電壓肯定比Vbus+Vor+Vk小,而后漏感中的能量又會(huì)給coss充電,此時(shí)Vk感應(yīng)電壓為下負(fù)上正,此時(shí):
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第六步:當(dāng)漏感中的能量消耗完畢后,此時(shí)電容又會(huì)反過(guò)來(lái)給漏感充電,漏感和coss電容來(lái)回充放電,形成了振蕩的波形,直到消耗完漏感的能量1 [8 f; t: N( [) V6 Y9 a* m+ o( P

% S9 V0 F3 G3 Z1 x; R, e當(dāng)然,從Vds電壓由峰值電壓下降后,電容C就通過(guò)R在消耗,C上的電壓也會(huì)慢慢降低,二極管一直處于關(guān)閉狀態(tài)。
* U3 z. Y  b, q+ Y; c2 o. ^# y第七步:漏感沒(méi)能量后,此時(shí)VDS被鉗位在VBUS+VOR電壓2 u$ E3 O; i  O' B& B7 |) |' ?

& X- c, V7 P4 x第八步:開(kāi)關(guān)管一直處于關(guān)閉狀態(tài),次級(jí)一直在消耗能量,當(dāng)變壓器中的能量全部消耗完畢后,此時(shí)VDS的電壓被箝位在Vbus
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第九步:當(dāng)初級(jí)繞組和副邊繞組的能力都消耗完,此時(shí)coss又會(huì)給初級(jí)繞組充電,初級(jí)繞組和coss也形程振蕩. j# t) @% ~% Y% j; O. F

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第十步:開(kāi)關(guān)管開(kāi)通,此時(shí)VDS又開(kāi)始上升,重復(fù)上面的過(guò)程9 f) e" ~" A' }: ]' j  a

5 A9 p3 V7 d' N! }" H4 r$ ~4 ^8 O3 t% R: S% \& a+ }

6 |* Z1 Y. s5 v如果將上面的VDS的波形畫(huà)出來(lái),如下圖
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0 i8 L1 l7 |& G9 }4 S4 h! O& t. H仿真查看電容C上的電壓,在剛上電后: s1 e' c' h; O* ~1 U( V
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穩(wěn)定狀態(tài)時(shí),VGS為低,MOS關(guān)斷,VDS電壓達(dá)到最大,此時(shí)電容吸收能量,而后并聯(lián)的電阻消耗能量。% G+ X3 n" B7 f5 s6 V8 ]$ J

, X+ e$ ^7 \' e8 V: r4 y將RC的電阻改為10K后,MOS關(guān)斷時(shí),R消耗的能量增加,電容的電壓下降更多,但是R不能太小,否則損耗增加,整機(jī)效率降低,而且電阻會(huì)發(fā)熱。) M7 L- m( T: b

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根據(jù)上述的波形可知,RCD的電阻最大值出現(xiàn)在VDS的最大值,此時(shí)因?yàn)镽CD吸收電路的C幾乎充滿(mǎn)了,已經(jīng)無(wú)法再繼續(xù)充電了,因此VDS的尖峰電壓其實(shí)只是在前面的周期中被有效吸收,而在后續(xù)周期內(nèi),RCD吸收效果大打折扣。
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經(jīng)過(guò)對(duì)上述RCD吸收電路和VDS電壓波形的分析,可以得出幾個(gè)結(jié)論:
8 x% y8 S" t. h( v3 R1、反激電源在上電時(shí)最容易燒壞MOS,因?yàn)樯想姵跗,要給后級(jí)負(fù)載充電,此時(shí)初級(jí)繞組中的電流比較大,漏感感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)較大。上電初期VDS會(huì)從小達(dá)到最大時(shí)值,當(dāng)系統(tǒng)穩(wěn)定后,VDS的電壓會(huì)大大降低。1 ~6 ~  v8 ^6 H! W" `
2、RCD吸收電路在上電啟動(dòng)期間,并不是每個(gè)周期吸收一樣的能量,但是會(huì)消耗同樣的能量,當(dāng)電容C的電量快充滿(mǎn)時(shí),吸收效果就并不明顯,而此時(shí)也會(huì)使VDS達(dá)到最大值。
1 B& t* @& f0 p/ L3 K3 A. j3、RCD吸收電路的R越小,電容C上的電壓下降越快,但是R太小,會(huì)導(dǎo)致多余的能量消耗在電阻上,會(huì)影響效率。5 G9 L8 ^% |* X& a3 S; }, r3 n
4、RCD吸收電路的C越小,吸收效果很差,一下就將電容C充滿(mǎn),VDS達(dá)到最大值變更快,MOSFET的漏極承受的電壓應(yīng)力值更大,時(shí)間更長(zhǎng),更容易燒MOS管。
/ h- O- ~3 j! q0 X* t5、RCD的二極管反向恢復(fù)時(shí)間越快越好,能快速在尖峰電壓達(dá)到時(shí),二極管從反偏到正偏,吸收尖峰能量,箝位電壓。& a/ N7 o: [' `( s
6、MOS管漏極承受的電壓應(yīng)力在開(kāi)機(jī)啟動(dòng)時(shí)最大,需要注意VDS耐壓值和尖峰電壓之間的裕量,確保MOS管正常工作。  M! d0 C: f" R# m* W, b0 }. s
聲明:  C+ l' G) H! s8 ^, m
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