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反激式電源為什么上電最容易燒MOS管?

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發(fā)表于 2024-11-26 11:10:00 | 只看該作者 |只看大圖 回帖獎(jiǎng)勵(lì) |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
大家好,這里是大話硬件。% A. q  T3 J- z6 a; f& g
這篇文章總結(jié)一下最近在研究的反激電源RCD吸收回路和VDS尖峰問(wèn)題。這也是為什么MOS管在開(kāi)機(jī)容易被電壓應(yīng)力擊穿的原因。
8 W% e0 L. e- B下圖是反激電源變壓器部分的拓?fù)洹?font class="jammer">( c* a) t/ a, _5 F' d$ c# U5 ]+ z+ V  S
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4 |" y0 C- M) S7 }* x' h
在MOS開(kāi)通時(shí),VDS上電壓:0 L! C6 D, J' R- d* r

: f: T/ s) U! ^+ P4 T由于Rdson比較小,MOS開(kāi)通時(shí),VDS電壓也較小。此時(shí),MOS漏極電壓應(yīng)力較小。* c/ T( Y  T. }/ F
然而,MOS關(guān)斷時(shí),此時(shí)漏極會(huì)承受較大電壓應(yīng)力,因此會(huì)在變壓器初級(jí)繞組上增加RCD吸收電路,用來(lái)吸收較大尖峰電壓,防止MOS因電壓應(yīng)力出現(xiàn)雪崩擊穿。7 E& o: ?" I" ^9 w8 w
于是,在電路中經(jīng)?吹竭@種方案。當(dāng)然還有多種類型變種,如使用TVS或者穩(wěn)壓管,無(wú)論是哪種方案類型,本質(zhì)都是吸收MOSFET關(guān)斷時(shí)尖峰電壓。# h+ n. S" U* f3 V. v
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8 y) m0 F0 h6 R! r  D尖峰產(chǎn)生原因主要來(lái)自變壓器漏感,而漏感來(lái)源有兩種途徑:
5 {& Z% W0 z* D9 w/ Z$ @6 A  f. `(1)來(lái)源于變壓器本體,在骨架上繞線時(shí),繞線疏密程度,分層繞組還是多組并繞制,這些不同的繞制方式,漏感均存在差異;如下圖中紅色和藍(lán)色繞線。
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(2)來(lái)源于變壓器骨架焊接腳和線圈之間的線纜,變壓器線圈和骨架之間需要浸錫并焊接成型,如果繞線離變壓器骨架管腳較遠(yuǎn),則有較長(zhǎng)的線纜并未和磁芯耦合。為了減少這部分漏感,貼片比直插就存在明顯的優(yōu)勢(shì)。/ D3 e; S' w. o1 h$ b" k
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8 d' |6 B$ ?% H+ u4 H- q7 c( r% X+ T* ^
以上兩種情況如果變壓器廠家設(shè)計(jì)比較差,則變壓器漏感比較大,那么漏感為什么會(huì)產(chǎn)生尖峰呢?
& \8 b/ u5 x$ y' a' ]1 f用下面模型,可以從能量角度理解。$ V% {( h% J2 P, m: G

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反激式開(kāi)關(guān)電源不能用在大功率電源中,主要是變壓器體積和功率限制。在MOS開(kāi)通時(shí),變壓器需要存儲(chǔ)能量,在MOS關(guān)斷時(shí)才釋放,因此,能量傳遞到后級(jí)的大小和變壓器緊密相關(guān)。6 H! Y2 {/ s. {3 H
同時(shí),由于變壓器是磁芯器件,還存在飽和風(fēng)險(xiǎn),因此反激變壓器還要考慮變壓器磁芯復(fù)位,占空比不能太大,磁芯要留氣隙,多種因素導(dǎo)致反激不適合用在大功率電源中。" l+ l8 B; q) t, c( k! |
正是因?yàn)樯厦嬖,反激式開(kāi)關(guān)電源只能在MOSFET關(guān)斷時(shí)傳遞能量,而初級(jí)繞組向次級(jí)傳遞能量主要靠變壓器骨架內(nèi)包裹的磁芯。變壓器存在漏感,這部分漏感不會(huì)和磁芯產(chǎn)生耦合。另外,還有一些磁場(chǎng)并不會(huì)乖乖的通過(guò)磁芯向次級(jí)傳遞能量,而是在空氣中形成閉合路徑。
& |3 {$ Y8 O5 f1 x所以,MOSFET關(guān)斷時(shí),總有一部分能量會(huì)因?yàn)闊o(wú)法傳遞而表現(xiàn)出較高電壓來(lái)維持開(kāi)通時(shí)狀態(tài),這就出現(xiàn)了尖峰電壓。
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0 [: j' y$ {6 v( V+ q! @即使漏感能量很低,但是dt在ns級(jí)別,因此,還是會(huì)感應(yīng)出較高的電動(dòng)勢(shì)。: j" y% J, ~/ m6 f

0 ~# c$ U/ R. c. J; n# t下面詳細(xì)分析RCD電路工作過(guò)程。
- b+ m+ Y; Z$ o4 d, d; g7 h/ }第一步:上電,此時(shí)芯片還未輸出PWM,C電容充電到Vbus
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0 l& e+ q$ O7 ?$ {/ k. i用下面的反激式電源進(jìn)行仿真驗(yàn)證. O# O6 p# Y. X9 q7 N% t( m1 \
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設(shè)定漏感為1uH3 w: V+ l; x5 R  ?& n5 s6 B* I2 y
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上電啟動(dòng)時(shí)探針RCD的波形,從波形可以看出,系統(tǒng)剛上電時(shí),芯片還未工作,此時(shí)MOSFET沒(méi)有動(dòng)作,VC等于輸入電壓60V。理論和實(shí)際相符合。
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' ^8 ?: `/ _' J2 m5 O9 [* L. N& M第二步:芯片達(dá)到工作電壓,開(kāi)始輸出PWM,開(kāi)關(guān)導(dǎo)通,此時(shí)變壓器開(kāi)始電感電流上升,漏感電流也上升,在MOS開(kāi)通后,Coss電容已經(jīng)放電完成' X  j0 U& |- _. }0 l0 {

" K, K$ K0 B5 p9 A4 a; R" s+ p) O 6 H) J' W5 j; U- D; V# H! m9 H
因?yàn)閯偵想奦C電壓已經(jīng)達(dá)到60V,在MOS開(kāi)通時(shí),VDS=0V,此時(shí)VC電壓明顯高于VDS,所以此時(shí)二極管反偏截止,Coss通過(guò)MOS放電,變壓器初級(jí)繞組和漏感開(kāi)始積累能量。
1 a1 [7 D4 B" o+ J第三步:開(kāi)關(guān)關(guān)閉,漏感中的能量無(wú)法傳遞到次級(jí),漏感會(huì)產(chǎn)生下正上負(fù)的電壓,此時(shí)VDS的電壓開(kāi)始上升
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& m) s- l1 x1 B$ P! z在VDS電壓上升初期,VC的電壓等于Vbus,此時(shí)二極管一直是關(guān)斷的,但是當(dāng)副邊二極管開(kāi)通后,反射到原邊的電壓Vor和漏感的電壓Vk會(huì)使VDS的電壓超過(guò)Vbus,注意,電容Vc的電壓是疊加在Vbus上,也就是VC在超過(guò)后該電壓后,二極管才開(kāi)通。
/ u3 U6 k: D1 }- n; V6 M第四步:當(dāng)VDS的電壓大于VIN+Vc電容中的電壓時(shí),此時(shí)二極管開(kāi)始導(dǎo)通,漏感和副邊反射過(guò)來(lái)的電壓VOR+Vbus+Vk給C充電,一直充電到最大值VDS出現(xiàn); R3 ?% G2 `$ O: h- Z

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此時(shí),因?yàn)槁└兄械哪芰吭诓粩嘟oC充電,Coss充電,所以,VDS的電壓會(huì)不斷增加,直到漏感中的能量消耗殆盡,VDS的電壓達(dá)到尖峰電壓的最大值。- H) r0 a6 g$ k& T: r3 c
第五步:此時(shí)漏感中的能量消耗殆盡,漏感電壓0,此時(shí)VDS的電壓開(kāi)始下降,二極管會(huì)因?yàn)榉雌刂梗藭r(shí)電容C對(duì)電阻放電,Coss的能量開(kāi)始給漏感充電# V3 S2 T: J+ S6 R) {( ~/ ?6 w

. ?7 V0 q* G% H$ A) a; V- w此時(shí)coss給漏感充電,VDS的電壓開(kāi)始下降,當(dāng)coss電容放電結(jié)束后,此時(shí)VDS的電壓肯定比Vbus+Vor+Vk小,而后漏感中的能量又會(huì)給coss充電,此時(shí)Vk感應(yīng)電壓為下負(fù)上正,此時(shí):
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第六步:當(dāng)漏感中的能量消耗完畢后,此時(shí)電容又會(huì)反過(guò)來(lái)給漏感充電,漏感和coss電容來(lái)回充放電,形成了振蕩的波形,直到消耗完漏感的能量
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當(dāng)然,從Vds電壓由峰值電壓下降后,電容C就通過(guò)R在消耗,C上的電壓也會(huì)慢慢降低,二極管一直處于關(guān)閉狀態(tài)。
' J# P5 S. |6 b" M; g0 R第七步:漏感沒(méi)能量后,此時(shí)VDS被鉗位在VBUS+VOR電壓3 P% |9 w3 }+ W# K8 m: A8 R) o
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第八步:開(kāi)關(guān)管一直處于關(guān)閉狀態(tài),次級(jí)一直在消耗能量,當(dāng)變壓器中的能量全部消耗完畢后,此時(shí)VDS的電壓被箝位在Vbus
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第九步:當(dāng)初級(jí)繞組和副邊繞組的能力都消耗完,此時(shí)coss又會(huì)給初級(jí)繞組充電,初級(jí)繞組和coss也形程振蕩
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6 D' o9 G' a1 W0 ~第十步:開(kāi)關(guān)管開(kāi)通,此時(shí)VDS又開(kāi)始上升,重復(fù)上面的過(guò)程
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9 a; o8 y( k/ s$ c如果將上面的VDS的波形畫出來(lái),如下圖
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9 _# Y3 b) \3 P* O" R6 e; S" u仿真查看電容C上的電壓,在剛上電后( v" P3 M: J6 ^  w
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穩(wěn)定狀態(tài)時(shí),VGS為低,MOS關(guān)斷,VDS電壓達(dá)到最大,此時(shí)電容吸收能量,而后并聯(lián)的電阻消耗能量。
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5 N) p9 s1 E9 u" k* e" J將RC的電阻改為10K后,MOS關(guān)斷時(shí),R消耗的能量增加,電容的電壓下降更多,但是R不能太小,否則損耗增加,整機(jī)效率降低,而且電阻會(huì)發(fā)熱。
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4 E) R- l! O& k" V根據(jù)上述的波形可知,RCD的電阻最大值出現(xiàn)在VDS的最大值,此時(shí)因?yàn)镽CD吸收電路的C幾乎充滿了,已經(jīng)無(wú)法再繼續(xù)充電了,因此VDS的尖峰電壓其實(shí)只是在前面的周期中被有效吸收,而在后續(xù)周期內(nèi),RCD吸收效果大打折扣。
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經(jīng)過(guò)對(duì)上述RCD吸收電路和VDS電壓波形的分析,可以得出幾個(gè)結(jié)論:
( X0 K0 U; a4 o+ j. ^2 i1、反激電源在上電時(shí)最容易燒壞MOS,因?yàn)樯想姵跗,要給后級(jí)負(fù)載充電,此時(shí)初級(jí)繞組中的電流比較大,漏感感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)較大。上電初期VDS會(huì)從小達(dá)到最大時(shí)值,當(dāng)系統(tǒng)穩(wěn)定后,VDS的電壓會(huì)大大降低。
, i; J: o  ^9 _( m: C8 X2、RCD吸收電路在上電啟動(dòng)期間,并不是每個(gè)周期吸收一樣的能量,但是會(huì)消耗同樣的能量,當(dāng)電容C的電量快充滿時(shí),吸收效果就并不明顯,而此時(shí)也會(huì)使VDS達(dá)到最大值。
9 i. f% c) A& X" G3、RCD吸收電路的R越小,電容C上的電壓下降越快,但是R太小,會(huì)導(dǎo)致多余的能量消耗在電阻上,會(huì)影響效率。
" ^! t5 a, r; h& Z% [8 [, _+ C. o4、RCD吸收電路的C越小,吸收效果很差,一下就將電容C充滿,VDS達(dá)到最大值變更快,MOSFET的漏極承受的電壓應(yīng)力值更大,時(shí)間更長(zhǎng),更容易燒MOS管。$ {- {. S3 ~: `, S& w1 J. U+ t4 h- R8 O7 Y
5、RCD的二極管反向恢復(fù)時(shí)間越快越好,能快速在尖峰電壓達(dá)到時(shí),二極管從反偏到正偏,吸收尖峰能量,箝位電壓。
- |1 K/ \. q; X3 u$ l2 a6、MOS管漏極承受的電壓應(yīng)力在開(kāi)機(jī)啟動(dòng)時(shí)最大,需要注意VDS耐壓值和尖峰電壓之間的裕量,確保MOS管正常工作。) A  b. c4 o! V; Y- E% O
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  `; o8 Z: L( ], _( p  y                                                                                        為什么硬件測(cè)試如此重要???
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